Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Consolidated product line variability modeling'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
Consolidated product line variability modeling
Joachim Bayer, Sebastien Gerard, Oystein Haugen, Jason Mansell, Birger Møller-Pedersen, Jon Oldevik, Patrick Tessier, Jean Philippe Thibault, Tanya Widen
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Capítulo › revisión exhaustiva
41
Citas
(Scopus)