Consolidated product line variability modeling
- Joachim Bayer
- , Sebastien Gerard
- , Oystein Haugen
- , Jason Mansell
- , Birger Møller-Pedersen
- , Jon Oldevik
- , Patrick Tessier
- , Jean Philippe Thibault
- , Tanya Widen
- Fraunhofer Institute for Experimental Software Engineering
- CEA Saclay
- University of Oslo
- SINTEF
- Institut national de recherche en informatique et en automatique
- Nokia Research Center 407
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Capítulo › revisión exhaustiva
41
Citas
(Scopus)