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Ising model in a quenched random field: Critical exponents in three dimensions from high-temperature series

  • A. Khurana*
  • , F. J. Seco
  • , A. Houghton
  • *Autor correspondiente de este trabajo

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

25 Citas (Scopus)

Resumen

A formalism is given whereby high-temperature series for the random-field Ising model on a d-dimensional hypercubic lattice is obtained by a partitioning of the vertices of the pure-Ising-series diagrams. For a bimodal distribution of quenched random fields we determine the series for the susceptibility to seventh order. Order by order the disorder is treated exactly. Dlog Padé analyses give a susceptibility exponent in d=3 which crosses over from 1.24 in the pure limit to 1.40 as disorder increases.

Idioma originalInglés
Páginas (desde-hasta)357-359
Número de páginas3
PublicaciónPhysical Review Letters
Volumen54
N.º4
DOI
EstadoPublicada - 1985
Publicado de forma externa

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Ising model in a quenched random field: Critical exponents in three dimensions from high-temperature series'. En conjunto forman una huella única.

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