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SPI patterns: Learning from experience

  • Marina Blanco*
  • , Pedro Gutiérrez
  • , Giuseppe Satriani
  • *Autor correspondiente de este trabajo
  • Fundación TECNALIA Research & Innovation
  • Parque Tecnológico 204

Producción científica: Contribución a una revistaArtículo de revisiónrevisión exhaustiva

9 Citas (Scopus)
Idioma originalInglés
Páginas (desde-hasta)28-35
Número de páginas8
PublicaciónIEEE Software
Volumen18
N.º3
DOI
EstadoPublicada - 2001

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